膜厚檢測(cè)介紹
 

　　通常情況下，薄膜的厚度指的是基片表面和薄膜表面的距離，而實(shí)際上，薄膜的表面是不平整，不連續(xù)的，且薄膜內(nèi)部存在著針孔、微裂紋、纖維絲、雜質(zhì)、晶格缺陷和表面吸附分子等。因此薄膜的厚度大至可以分成三類：形狀厚度，質(zhì)量厚度，物性厚度。中科檢測(cè)開(kāi)展膜厚檢測(cè)服務(wù)，具備CMA、CNAS資質(zhì)認(rèn)證。
 

　　膜厚檢測(cè)范圍
 

　　陽(yáng)極氧化膜、磷化膜、涂層干膜、鍍層、船舶涂裝膜、鍍鎳膜、電鍍膜、鍍鋅膜、納米膜、濾膜等
 

　　膜厚檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
 

　　GB/T 28122-2011 液晶顯示器(LCD)用(PVA)膜.厚度測(cè)定方法
 

　　GB/T 8014.1-2005 鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化 氧化膜厚度的測(cè)量方法 第1部分;測(cè)量原則
 

　　GB/T 8014.3-2005 鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化 氧化膜厚度的測(cè)量方法 第3部分;分光束顯微鏡法
 

　　GB/T 8014.2-2005 鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化 氧化膜厚度的測(cè)量方法 第2部分;質(zhì)量損失法
 

　　GB/T 8015.1-1987 鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化膜厚度的試驗(yàn)方法 重量法
 

　　GB/T 8014-1987 鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化 陽(yáng)極氧化膜厚度的定義和有關(guān)測(cè)量厚度的規(guī)定
 

　　DIN EN 13523-1-2017 卷材鍍層金屬.試驗(yàn)方法.第1部分:膜厚度
 

　　EN ISO 18452-2016 精細(xì)陶瓷(gaoji陶瓷,高技術(shù)陶瓷)-由接觸式陶瓷膜厚度的測(cè)定
 

　　ISO/TS 19397-2015 利用超聲波測(cè)量計(jì)測(cè)定涂層的膜厚度
 

　　JIS K5600-1-7-2014 涂料的試驗(yàn)方法.第1部分:一般規(guī)則.第7節(jié):膜厚度測(cè)定